မတူညီသောပစ္စည်းများတွင် X-ray fluorescence (XRF) ကိုအသုံးပြုမှုကိုလေ့လာခြင်းသည် သိသာထင်ရှားသောအသိပညာတစ်ခုဖြစ်ကြောင်း Nanyang JZJ မှယုံကြည်သည်။ သိပ္ပံပညာရှင်များသည် 'XRB spectrometer' ဟုခေါ်သည့် နည်းစနစ်ကို အခြေခံ၍ X-rays များကို အသုံးပြုကာ အက်တမ်ပါးလွှာသော ပစ္စည်းများတွင် မည်သည့်ဒြပ်စင်များပါရှိသည်ကို သတင်းအချက်အလက်ပေးသည်။ ဒါပေမယ့် ဒီ tool ရဲ့ အားနည်းချက်အချို့ကိုလည်း တွေးကြည့်ဖို့ လိုပါတယ်။ ဤသည်မှာ ရှင်းပြရန် XRF ၏ ရိုးရှင်းသော ချို့ယွင်းချက်ငါးခုဖြစ်သည်။
တန်ဖိုး- အခြေခံအားဖြင့် ကန့်သတ်ထားသော ICP နည်းလမ်းများနှင့် ဆန့်ကျင်ဘက်ဖြစ်သော ကွဲပြားခြားနားသော ဒြပ်စင်တစ်ခုသို့ လွယ်ကူစွာ အလုပ်လုပ်ပါသည်။ သေချာသည်မှာ ၎င်းသည် ပြီးပြည့်စုံမှု မရှိကြောင်းနှင့် watchQuery ၏ အချို့သော ကန့်သတ်ချက်များ။ အနည်းစုတွင် XRF မတွေ့နိုင်သော အရာအချို့ရှိသည်။ ၎င်းတွင် ပါရှိသော ဒြပ်စင်အချို့သည် စက်ဖြင့်ဖတ်သော X rays ကို မထုတ်လွှတ်သောကြောင့် ဖြစ်သည်။ အချို့သောဓာတ်ငွေ့များနှင့် ပိုလေးသောသတ္တုများကို XRF ကဲ့သို့ ခွဲခြား၍မရပါ၊ ထိုကဲ့သို့သောဒြပ်စင်များပါ၀င်သည့်ပစ္စည်းကို သင်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနေပါက ၎င်းတို့ကို ရှာဖွေ၍မရနိုင်ပါ။ ဤအရာများကို နောက်မှ စစ်ဆေးကြည့်လိုပါက အဘယ့်ကြောင့်နည်း။ ထို့နောက်တွင် ကျွန်ုပ်သည် မူလက အခြားစဖွင့်သတ်မှတ်မှုတွင် လုံးဝ ဦးဆောင်မည့် အနေအထားတွင် ကတ်ကို ထားရှိမည်ဖြစ်ပြီး အချိန်ပိုကြာမည်ဖြစ်သည်။
စံချိန်စံညွှန်းများ XRF ကို အသုံးပြု၍ သိပ္ပံပညာရှင်များနှင့် ဆက်စပ်နေသော အဓိကပြဿနာမှာ အရာဝတ္ထုတစ်ခုတွင် မည်သည့်ဒြပ်စင်ကိုမဆို တိုင်းတာရန် သိပ္ပံဥပဒေများက ၎င်းတို့အား စံနှုန်းများကို အသုံးပြုရန် လိုအပ်ခြင်းပင်ဖြစ်သည်။ စံသည် မည်သည့်အရာကို ရှာဖွေမည် သို့မဟုတ် တိုင်းတာရမည်နှင့် မည်ကဲ့သို့ တိကျစွာ မည်ကဲ့သို့ ရှာဖွေရမည်ကို ခွဲခြားသိမြင်နိုင်ရန် စက်က သိသော အစိတ်အပိုင်းအတွက် တန်ဖိုးတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် သင့်နမူနာတွင် အမှန်တကယ် ဒြပ်စင်မည်မျှရှိသည်ကို သေချာစွာသိရှိရန် မဖြစ်နိုင်ပေ။ ယင်းက ၎င်းတို့ကို တိကျစွာတိုင်းတာရန် ခက်ခဲစေသည်။ သုတေသနရလဒ်များသည် အမှားအယွင်းများ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်သည်၊ သို့မဟုတ် တိုင်းတာမှုများ အတိအကျ မမှန်ကန်ပါက မေးခွန်းထုတ်သည့် အကြောင်းအရာကို လွဲမှားစွာ အသုံးပြုနိုင်သည်။
သို့သော်၊ XRF ၏ သိသာထင်ရှားသော ကန့်သတ်ချက်မှာ ၎င်းသည် မျက်နှာပြင်ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအတွက်သာ ပံ့ပိုးပေးခြင်းဖြစ်သည်။ တစ်နည်းဆိုရသော်၊ အလွှာအမျိုးမျိုးရှိသည့် ပစ္စည်းတစ်ခုနှင့် ပတ်သက်လာလျှင် XRF သည် ပထမအလွှာကိုသာ သိရှိနိုင်သည်။ ဥပမာအနေနဲ့ကတော့ အပေါ်ကပုံလို သစ်သားဆေးခြယ်ထားတဲ့ ပန်းချီကားဟာ အပြင်ဘက်မှာ ဘယ်လိုဆေးအမျိုးအစားပါလဲဆိုတာ ပြောပြနိုင်ပေမယ့် အတွင်းပိုင်းမှာတော့ ခဲ ဒါမှမဟုတ် stencil စတာတွေကို ကန့်သတ်ချက်တွေ ကျော်လွန်နေတာမျိုး မရှိစေဘဲ၊ အပျက်အဆီးမရှိသော၊ သတ္တုအပိုင်းတစ်ခုလုံးကို စမ်းသပ်ရန် ၎င်း၏တာဝန်သာဖြစ်သည့် တူရိယာ)၊ XRF သည် ကုတ်အင်္ကျီကို လေ့လာမည်ဖြစ်သည်။ အကယ်၍ သင်သည် ထိပ်တန်း မိုက်ခရိုနမ် အနည်းငယ်ရှိ အရာများကိုသာ စိတ်ပူနေပါက၊ ၎င်းသည် ပြဿနာမဟုတ်သော်လည်း မျက်နှာပြင်အောက်ရှိ အရာများအတွက် လေးစားဖွယ် နောက်ထပ်အချက်အလက်များ ရှိနေပါက၊ XRF သည် စံပြဖြစ်လိမ့်မည် မဟုတ်ပါ။ လိုအပ်ပါက ထိုနောက်ခံအချက်အလက်ကို အလှဆင်ရန် အခြားနည်းလမ်းများကို ရှာဖွေပါ။
ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာသည့်အရာတွင် မည်သည့်ပြောင်းလဲမှုကိုမဆို XRF ၏သဘောပေါက်နိုင်မှု ရလဒ်များသည် ပစ္စည်းဂုဏ်သတ္တိများတွင် သေးငယ်သောသွေဖည်မှုတစ်ခုခုကို အတော်လေး ထိလွယ်ရှလွယ်ဖြစ်စေသည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ ပစ္စည်းတွင် ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာခွဲခြားရန်မဖြစ်နိုင်သော ကွဲပြားသောဒြပ်စင်များစွာကို အတူတကွ ရောနှောပြီး ခွဲခြမ်းစိပ်ဖြာနိုင်သောကြောင့် ၎င်းတို့အား လွတ်လပ်စွာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာနိုင်လျှင် XRF သည် ဒြပ်စင်တစ်ခုစီ၏ မည်မျှရှိသည်ကို တိကျစွာဆုံးဖြတ်နိုင်မည်မဟုတ်ပေ။ ထို့အပြင်၊ အကယ်၍ ပစ္စည်းသည် တူညီသော်လည်း မတူညီသော ဓာတုအခြေအနေ (ဥပမာ +2 သို့မဟုတ် +3 စသည်) တွင်ရှိသော ဒြပ်စင်ဖြစ်ပါက၊ ၎င်းသည် XRF ရလဒ်များကို ထပ်မံရှုပ်ထွေးစေသည်။ အဆိုပါ အာရုံခံနိုင်စွမ်းသည် ၎င်းတို့ရရှိသည့် အချက်အလက်အပေါ် သိပ္ပံပညာရှင်များ၏ ယုံကြည်မှုကို ပျက်ပြားစေသည့် အံ့အားသင့်စရာများ ဖြစ်ပေါ်နိုင်သည်။
XRF မအောင်မြင်နိုင်သော နောက်ထပ် အရေးကြီးသော တိုင်းတာမှုတစ်ခုသည် ပစ္စည်းတစ်ခုအတွင်း ထိုးဖောက်ဝင်ရောက်မှု၏ အတိမ်အနက်ကို ပေးစွမ်းနိုင်သည်။ XRF သည် မျက်နှာပြင်ကို သပ်သပ်ကြည့်သည်၊ ထို့ကြောင့် ၎င်းတို့၏ အစုလိုက်အပုံလိုက် မည်မျှ ပြန့်ကျဲနေသည်ကို ပုံမပြဘဲ — ၎င်းသည် အပေါ်ယံ သို့မဟုတ် အပေါ်မှဒြပ်စင်များဖြစ်ပါစေ။ ပစ္စည်းကို ဒြပ်စင်အရေအတွက် အတိအကျဖြင့် ခွဲမည်ဆိုပါက၊ ဤအရာသည် ပြဿနာကြီးတစ်ခု ဖြစ်လာနိုင်သည်။ ဥပမာတစ်ခုအနေနဲ့ သင်ဟာ သတ္တုအရာဝတ္ထုတစ်ခုကို စစ်ဆေးနေပြီး အစိတ်အပိုင်းတစ်ခုလုံးမှာ တိုက်တေနီယမ် ဘယ်လောက်ရှိတယ်ဆိုတာ နားလည်ချင်ရင် XRF က သင့်အဖြေကို ပေးမှာမဟုတ်ပါဘူး။