X-ray fluorescence (XRF) ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းသည် ပစ္စည်းရှာဖွေခြင်းအတွက် ထူးခြားသောနည်းပညာတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤနည်းပညာသည် နမူနာအမျိုးအစားအမျိုးမျိုးတွင်ပါရှိသော ဒြပ်စင်အမျိုးမျိုးကို သိရှိနိုင်ရန် X-ray ဓာတ်ရောင်ခြည်ကို အသုံးပြုသည်။ ဤလုပ်ငန်းစဉ်တွင် ကျွန်ုပ်တို့အသုံးပြုသော Xrays များသည် ကျွန်ုပ်တို့၏ခန္ဓာကိုယ်အတွင်းပိုင်းကိုကြည့်ရှုရန် ဆေးရုံများတွင်အသုံးပြုသော ဆရာဝန်များနှင့်တူသော်လည်း၊ ၎င်းတို့သည် ပိုမိုအားကောင်းပြီး ပိုမိုတက်ကြွပါသည်။ ဤဆောင်းပါးတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် XRF ၏ လည်ပတ်မှုအခြေခံမူများ၊ ၎င်း၏အသုံးပြုမှုတည်နေရာများနှင့် XRF အတွက် မှန်ကန်သောနည်းလမ်းဖြင့် နမူနာပြင်ဆင်မှုပြုလုပ်နည်းကို ကျွန်ုပ်တို့လေ့လာပါမည်။
XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဆိုင်ရာ အရေးကြီးဆုံးအချက်တစ်ခုမှာ ၎င်းသည် အဖျက်အဆီးမရှိသော နည်းပညာတစ်ခုဖြစ်ပြီး စမ်းသပ်ဆဲပစ္စည်းများကို မည်သည့်နည်းနှင့်မျှ ထိခိုက်မည်မဟုတ်ပါ။ သတ္တုများ၊ ဓာတ်သတ္တုများ၊ ပလတ်စတစ်များနှင့် အခြားပစ္စည်းများ၏ ပါဝင်မှုကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရန် ၎င်းကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ ပစ္စည်းတစ်ခုအား စွမ်းအင်မြင့် X-rays များဖြင့် ဗုံးကြဲသောအခါ ၎င်းသည် ၎င်း၏ကိုယ်ပိုင် X-ray ရောင်ခြည်ကို ထုတ်လွှတ်သည်။ ထို့နောက် ဤရောင်ခြည်ဖြာထွက်ခြင်းကို သိပ္ပံပညာရှင်များက တိုင်းတာပြီး ပစ္စည်းအတွင်းပါရှိသော ဒြပ်စင်များ၏ အမျိုးအစားနှင့် အရေအတွက်ကို ဆုံးဖြတ်ရန် အသုံးပြုသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် သိပ္ပံပညာရှင်များနှင့် သုတေသီများအတွက် အလွန်အသုံးဝင်သည်။ DFW တွင် အခြေခံမူကွဲနှစ်မျိုးဖြစ်သည့် Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) နှင့် Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) တို့ရှိသည်။ တစ်ခုချင်းစီတွင်၎င်း၏ကိုယ်ပိုင်ထူးခြားသော application များနှင့်အကျိုးကျေးဇူးများရှိသည်။
၎င်းသည် သတ္တုတူးဖော်ခြင်း၊ ဆေးပညာ၊ ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် ထုတ်ကုန်ထုတ်လုပ်ခြင်းမှသည် လုပ်ငန်းအများအပြားတွင် XRF မရှိမဖြစ်လိုအပ်သည်။ XRF ၏ ယင်းကဲ့သို့သော အသုံးချမှုတစ်ခုမှာ သတ္တုတွင်းနမူနာများနှင့် ပတ်သက်၍ သိပ္ပံပညာရှင်များအား မရှိမဖြစ်လိုအပ်သော အချက်အလက်များကို ပေးဆောင်သည့် သတ္တုတွင်းလုပ်ငန်းတွင် အဖျက်အဆီးမရှိသော နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် သတ္တုရိုင်းများကို အမြတ်အစွန်း တူးဖော်နိုင်ခြင်း ရှိမရှိ ဆုံးဖြတ်ရာတွင် အထောက်အကူ ဖြစ်စေပါသည်။ XRF သည် ဆေးဝါးနယ်ပယ်တွင် စမ်းသပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုရန် စက်ရုံများသို့ ရောက်ရှိလာသော ပစ္စည်းများ၏ ဘေးကင်းလုံခြုံရေး နိယာမအပေါ် လုပ်ဆောင်သည်။ ဓာတုအမှိုက်များကို မှန်ကန်စွာ စွန့်ပစ်ကြောင်း သေချာစေရန်လည်း ကူညီပေးနိုင်ပါသည်။ ၎င်း၏ မြန်နှုန်းမြင့် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုနှင့် အာရုံစူးစိုက်မှု နည်းပါးသော အာရုံခံနိုင်စွမ်းတို့နှင့်အတူ၊ ညစ်ညမ်းနေသော မြေဆီလွှာ၊ လေစစ်ထုတ်စက်များနှင့် ညစ်ညမ်းသော ရေအရင်းအမြစ်များတွင် ညစ်ညမ်းမှုကို ဖော်ထုတ်ရန်အတွက် ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်မှုတွင် XRF ကိုလည်း အသုံးပြုနိုင်သည်။ XRF သည် သတ္တုများ သို့မဟုတ် သတ္တုဓာတ်များကို မှန်ကန်သော ပမာဏဖြစ်ကြောင်း ၊ ထုတ်ကုန်များထုတ်လုပ်ရန်အတွက် အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းများကို ဖန်တီးထုတ်လုပ်ရာတွင် အသုံးပြုကြောင်း သေချာစေပါသည်။
သာမာန်အစိုင်အခဲနမူနာများမှလွဲ၍ XRF သည် အရည်များနှင့် အသေးစား သို့မဟုတ် သေးငယ်သောနမူနာများကို စစ်ဆေးရန် စွမ်းရည်လည်း ရှိပါသည်။ ယခုအခါ ၎င်းသည် အလွန်ဘက်စုံသုံးကိရိယာအဖြစ် ပုံဖော်ပေးပါသည်။ ၎င်းသည် သတ္တုများ၊ ကြွေထည်များနှင့် သတ္တုဓာတ်များကဲ့သို့သော ပစ္စည်းများအား စုံစမ်းရန် အလျင်မြန်ဆုံးနှင့် စျေးအသက်သာဆုံး နည်းလမ်းများထဲမှ တစ်ခုဖြစ်သည်။ အကြောင်းရင်းများစွာသည် XRF ၏ရလဒ်များကို လွှမ်းမိုးနိုင်သောကြောင့် တိကျသော XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုရရှိရန် သင့်လျော်သောကြိုတင်ကာကွယ်မှုလိုအပ်ပါသည်။ ၎င်းသည်နမူနာပြင်ဆင်မှုအရည်အသွေး၊ နမူနာတွင်ပါရှိသောဒြပ်စင်များ၏အာရုံစူးစိုက်မှုနှင့် XRF တူရိယာ၏အာရုံခံနိုင်စွမ်းစသည့်အချက်များပေါ်တွင်မူတည်သည်။ XRF သည် နမူနာတစ်ခုရှိ ဒြပ်စင်များ၏ ခြေရာများကိုပင် ရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်သည်ဟူသော အချက်အပါအဝင် လိုအပ်နေသော သိပ္ပံပညာရှင်များအတွက် အဖိုးတန်သော အချက်အလက်တစ်ခုဖြစ်သည်။
ပိုမိုမြန်ဆန်သောစမ်းသပ်မှုနှင့်ပိုမိုတိကျမှုကိုပေးဆောင်သည့် XRF ကိရိယာအတွက် ဆက်လက်တိုးတက်မှုရှိပါသည်။ အထူးသဖြင့် ဈေးကွက်တွင်ရရှိနိုင်သော microfocus XRF ဟုခေါ်သော ကိရိယာအသစ်များဖြင့် အလွန်သေးငယ်သော XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုများကို တောင်းဆိုသည့်ကိစ္စများတွင် ၎င်းသည် အလွန်အစွမ်းထက်ပါသည်။ ပိုမိုခေတ်မီဆန်းပြားသော တူရိယာအများအပြားကို မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ မျိုးစိတ်များတွေ့ရှိသည့်နေရာကို ညွှန်ပြသည့် မြေပုံများကို ဖန်တီးကာ သုတေသီများအတွက် အဖိုးတန်သော အချက်အလက်များစွာကို ပေးစွမ်းနိုင်သည်။ ထို့အပြင်၊ ထောက်လှမ်းကိရိယာများဆိုင်ရာ ဆန်းသစ်သောနည်းပညာတစ်ခုသည် ဓာတ်ခွဲခန်းပတ်ဝန်းကျင်တွင်အစား အာကာသအတွင်း သိပ္ပံပညာရှင်များအသုံးပြုသော ခရီးဆောင် XRF ကိရိယာများကို ဖွင့်ပေးထားသည်။ ခေတ်မီ X-ray fluorescence စက်များတွင် ရလဒ်များကို ထိခိုက်စေနိုင်သည့် အကြောင်းရင်းအမျိုးမျိုးအတွက် လျော်ကြေးပေးသည့် အသိဉာဏ်ရှိသော ဆော့ဖ်ဝဲကိုလည်း ပါရှိသည်။ ဤခေတ်မီဆန်းသစ်သောဆော့ဖ်ဝဲလ်သည် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို ပိုမိုသန့်စင်စေပြီး တိကျမှုကို တိုးမြှင့်ပေးနိုင်သည်။
XRF ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအတွက် နမူနာများကို ပြင်ဆင်ခြင်းသည် လက်ခံနိုင်သောရလဒ်များရရှိရန်အတွက် လိုအပ်သော အရေးကြီးဆုံးသော ကိန်းရှင်တစ်ခုဖြစ်သည်။ ဤပြင်ဆင်မှုတွင် နမူနာကို လျှော့ချပြီး မှန်ကန်စွာ ရောနှောခြင်း ပါဝင်ပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုကို ထုတ်ပေးပါသည်။ သန့်ရှင်းရေးသည် အပလီကေးရှင်းပေါ် မူတည်၍ ကွဲပြားသော်လည်း ရလဒ်ကို ထိခိုက်စေနိုင်သော အညစ်အကြေးများ၊ ဖုန်မှုန့်များနှင့် ဆီများကို ဖယ်ရှားရန် အမြဲတမ်း မရှိမဖြစ်လိုအပ်ပါသည်။ အရည်နမူနာအတွက်၊ စမ်းသပ်ရန်အတွက် ပြင်ဆင်ရန် ၎င်းကို ဖျန်းရန် သို့မဟုတ် သင့်နမူနာကို ကွဲပြားစွာ ဆက်ဆံရန် လိုအပ်နိုင်သည်။ အစိုင်အခဲနမူနာများအတွက် ယေဘူယျပြင်ဆင်မှုနည်းလမ်းများမှာ အမှုန့်ကြိတ်ခြင်း၊ ပေါင်းစပ်ခြင်းနှင့် ကြိတ်ခွဲခြင်း စသည်တို့ဖြစ်သည်။ ထို့အပြင်၊ နမူနာကိုင်ဆောင်သူသည် သက်ဆိုင်ရာစမ်းသပ်မှုပရိုတိုကောနှင့်လည်း ကိုက်ညီသင့်သည်။ ကိုင်ဆောင်သူများသည် တိုင်းတာမှုများကို ပြောင်းလဲခြင်းဖြင့် ကြမ်းတမ်းသောမျက်နှာပြင်များရှိနိုင်သောကြောင့် ၎င်းသည် သိသာထင်ရှားသောအချက်ဖြစ်သည်။
Nanyang JZJ Testing Equipment Co.,Ltd သည် ရှည်လျားသော ယဉ်ကျေးမှုနှင့် သမိုင်းနောက်ခံရှိသော တရုတ်နိုင်ငံ၊ နန်ယန်ပြည်နယ်၊ နန်ယန်တွင် တည်ရှိသည်။ လက်ရှိတွင်၊ ၎င်းသည် အာရှ၊ ဥရောပ၊ အရှေ့အလယ်ပိုင်းနှင့် အာဖရိကတို့တွင် လည်ပတ်နေသော မြင့်မားသောအပူချိန် (refractory materials) စက်မှုလုပ်ငန်းကွင်းဆက်ကုမ္ပဏီတစ်ခုဖြစ်လာသည်။
Gongye လမ်း၊ Wolong ခရိုင်၊ Nanyang မြို့၊ Henan ပြည်နယ်၊ တရုတ်
မူပိုင်ခွင့် © 2016-2024 Nanyang JZJ Testing Equipment Co., Ltd. All Rights Reserved.
EN
AR
BG
FR
DE
HI
IT
PL
PT
RU
ES
TL
IW
ID
UK
VI
TH
TR
FA
MS
UR
BN
KM
LO
PA
MY
KK
