Phân tích Florescence Tia X hay đơn giản là phân tích XRF là một phương pháp không phá hủy mà các nhà khoa học sử dụng để xác định thành phần của vật liệu, các nguyên tố nào tạo nên những vật liệu nhất định. Nó ít mang tính tùy tiện hơn khi nó cho phép chúng ta, với sự hỗ trợ của khoa học, tìm hiểu thêm về các chất khác nhau. Máy XRF là gì và cách nó sử dụng tia X quang hóa học có hại? Tia phóng xạ này, khi chạm vào mẫu (hoặc vật liệu), khiến các nguyên tử; hoặc các phần nhỏ của chất trở nên kích thích. Khi nguyên tử bị kích thích, chúng giải phóng năng lượng dưới dạng tia X huỳnh quang. Tia X này được máy thu thập và phân tích để xác định các nguyên tố có mặt trong mẫu. Nhờ đó, các nhà khoa học có cái nhìn sâu sắc về thành phần hóa học của các vật liệu này.
Ví dụ thường gặp và thực tế nhất cho phân tích XRF. Chẳng hạn, khai thác mỏ là quá trình lấy quặng từ môi trường tự nhiên để sử dụng cho con người. Ngành dược phẩm, nơi tổng hợp thuốc, sử dụng phương pháp này để chứng minh rằng các chất là phù hợp về đặc tính. Ngoài ra, XRF được các nhà khoa học môi trường sử dụng trên mẫu đất và nước để xác định các chất ô nhiễm hoặc các yếu tố có hại cho môi trường. Làm thế nào để phân tích tốt hơn các nguyên tố trong thép hoặc khoáng sản, điều này có thể thấy rõ khi biết một vật liệu phức tạp được tạo thành từ gì? Các nhà khoa học sẽ có khả năng, với thiết bị tinh vi như các đơn vị do Nanyang JZJ phát triển, để biết chính xác kết quả cuối cùng chỉ trong vài phút. Điều này giúp họ xử lý được nhiều mẫu với độ khó tương đối thấp, điều rất quan trọng trong công việc của họ.
Một trong những lợi ích lớn nhất khi sử dụng phân tích XRF là nó sẽ không phá hủy hoặc thay đổi mẫu của bạn. Những phương pháp này được gọi là kiểm tra không phá hủy. Tính chất không phá hủy của quá trình phân tích có nghĩa là các mẫu thử không bị sửa đổi hoặc thay đổi trong quá trình kiểm tra và có thể được lưu trữ để tái phân tích vào một ngày sau đó. Đặc biệt khi làm việc với các tài nguyên hạn chế hoặc đắt tiền, và không muốn bị rò rỉ ra ngoài. Ngoài ra, phân tích XRF còn nhanh chóng và cực kỳ chính xác. Các mẫu như vậy yêu cầu tối thiểu xử lý trước để đảm bảo rằng các nhà khoa học có thể đưa ra kết quả nhanh chóng. Thay vào đó, nó sẽ cho phép các nhà nghiên cứu tập trung vào việc khám phá trong nửa sau của chu kỳ nghiên cứu - nghiên cứu và giải thích kết quả.
Tuy nhiên, việc phân tích XRF không phải không có giới hạn. Một hạn chế lớn là độ sâu thâm nhập của tia X vào mẫu vật. Chúng ta phải có thể nhìn thấy các nguyên tử bên trong, điều đó yêu cầu phải trong suốt đối với tia X. Đối với các mẫu dày hơn hoặc đặc hơn, điều này hạn chế dữ liệu có thể trích xuất từ sâu bên trong chúng. Ngoài ra, phương pháp phân tích XRF thực sự phù hợp với các nguyên tố nặng (carbon/Hydrogen/Nitrogen). Những nguyên tố này phổ biến trong hầu hết các vật liệu nhưng lại gây khó khăn cho máy XRF. Hạn chế cuối cùng, nhưng không kém phần quan trọng, của việc phân tích XRF đòi hỏi kiến thức kỹ thuật cơ bản. Việc vận hành máy chính xác và đọc kết quả của nó yêu cầu đào tạo chuyên biệt.
Trong những năm gần đây, đã có nhiều tiến bộ và đổi mới thú vị trong lĩnh vực huỳnh quang tia X. Qua thời gian, các máy phân tích XRF đã được cải tiến để trở nên chính xác hơn, đáng tin cậy hơn và nhanh hơn so với trước đây. Ví dụ, một thiết bị Phân tích XRF Tự động Nanyang JZJ sử dụng công nghệ hiện đại với bộ dò hiệu suất cao để tìm kiếm các nguyên tố có nồng độ rất thấp trong mỗi mẫu thử. Các nhà khoa học có thể đạt được mức độ chi tiết tốt đến mức ngay cả những vật liệu phức tạp nhất (thường chống lại việc kiểm tra) cũng cho ra kết quả. Hơn nữa, những phát triển này đã đóng vai trò quan trọng trong việc nghiên cứu một loạt các mẫu, giúp các nhà nghiên cứu cung cấp thông tin về thành phần của mẫu mà trước đây khó có thể tiếp cận.