Nanyang JZJ cree que estudiar el uso de la fluorescencia de rayos X (XRF) en diferentes materiales es un conocimiento significativo. Los científicos utilizan rayos X basándose en el principio de la técnica denominada "espectrómetro XRB", que les proporciona información sobre los elementos presentes en materiales atómicamente delgados. Pero también debemos pensar en algunas desventajas de esta herramienta. A continuación se presentan cinco deficiencias simplificadas de la XRF para explicarlas.
Valor: Funciona en un material con elementos diferentes a diferencia de los métodos ICP, que son básicamente limitados. Seguro que no es perfecto y tiene algunas limitaciones de watchQuery. Hay algunas cosas que XRF no detecta en lo más mínimo. Esto se debe a que algunos de los elementos que contienen no emiten rayos X que la máquina lee. Algunos gases y metales más pesados pueden no identificarse como XRF, que no puede detectarlos si está analizando un material que incluye dichos elementos. Esto no es óptimo, ya que, ¿qué pasa si desea verificar esos elementos más adelante...? Entonces, tal vez tener la tarjeta en la posición i de forma nativa conduciría a otra configuración por completo y tomaría más tiempo.
Estándares Un problema principal asociado con los científicos que utilizan XRF para cuantificar cualquier elemento en una sustancia es que las leyes científicas requieren que empleen estándares. El estándar es un valor para el elemento que la máquina conoce para ayudarla a identificar qué buscar o medir y con qué precisión. Esto hace que sea imposible saber con certeza qué cantidad del elemento hay realmente en su muestra. Esto hace que sea difícil medirlos con precisión. Los resultados de la investigación pueden dar lugar a errores, o el material en cuestión puede usarse incorrectamente si las mediciones no son exactamente correctas.
Sin embargo, una limitación importante de la XRF es que solo proporciona análisis de superficie. En otras palabras, cuando se trata de un material que tiene varias capas, la XRF solo puede detectar la primera capa. Un ejemplo de esto es que con una pieza de madera pintada como la de la imagen anterior podemos decirle qué tipo de pintura tiene en el exterior, pero no si hay algún exceso de plomo o esténcil, etc. en el interior de sí misma. Absténgase de usar palabras como no destructivo (de lo contrario, en el que el instrumento solo realiza su función de probar toda la sección de metal), la XRF estudiará solo la capa. Si solo le preocupan las cosas en los primeros micrones, esto no es un problema, pero si existe información adicional valiosa sobre lo que está debajo de la superficie, entonces la XRF no sería necesariamente ideal. Si debe hacerlo, busque otras formas de adornar esa información de fondo.
Capacidad de XRF para detectar cualquier cambio en el material que se analiza Esto hace que los resultados sean bastante sensibles a cualquier pequeña desviación en las propiedades del material. Si, por ejemplo, el material tiene una cantidad de elementos diferentes mezclados que son imposibles de separar físicamente para que puedan analizarlos de forma independiente, XRF puede no ser capaz de determinar con precisión qué cantidad de cada elemento está presente. Además, si el material es el mismo pero el elemento está en un estado químico diferente (forma, es decir, +2 o +3, etc.), esto nuevamente confunde los resultados de XRF. Esa sensibilidad puede resultar en sorpresas que socaven la confianza de los científicos en los datos que están recibiendo.
Una medición crítica adicional que la XRF no puede lograr es la capacidad de proporcionar información sobre la profundidad de penetración dentro de un material. La XRF solo analiza la superficie, por lo tanto, no nos da una idea de cuánto se dispersó a través de su propia masa, ya sean recubrimientos o elementos de cobertura. Si clasifica el material en número exacto de elementos, esto puede ser un gran problema. Un ejemplo de esto sería si está inspeccionando un objeto de metal y desea comprender cuánto, por ejemplo, titanio existe en todo el componente, la XRF no le proporcionará la respuesta.
Nanyang JZJ Testing Equipment Co., Ltd, está ubicada en Nanyang, provincia de Henan, China, una ciudad con una larga trayectoria cultural e histórica. En la actualidad, se ha convertido en una empresa de cadena industrial de alta temperatura (materiales refractarios) líder en la industria, que opera en Asia, Europa, Medio Oriente y África.
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