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परिचय
अपवर्तकता मुख्य रूप से बिना किसी भार और उच्च तापमान की कार्रवाई के तहत सामग्री के पिघलने और नरम होने की डिग्री को चिह्नित करने के लिए है, जो दुर्दम्य सामग्री के महत्वपूर्ण गुणवत्ता संकेतकों में से एक है। माप विधि: परीक्षण सामग्री को निर्दिष्ट आकार के साथ एक काटे गए त्रिकोणीय शंकु में बनाया जाता है, शंकु को निश्चित हीटिंग दर पर गर्म किया जाता है, इसकी नोक तापमान पर अपने वजन के कारण चेसिस से संपर्क करेगी, जो परीक्षण की अपवर्तकता है सामग्री।
उपकरणों की इस श्रृंखला में पूरी तरह से स्वतंत्र संपत्ति अधिकार हैं, जिनका उपयोग नरम तापमान की एक विशिष्ट डिग्री तक पहुंचने के लिए उच्च तापमान की कार्रवाई के तहत सामग्री का परीक्षण करने, रूपात्मक परिवर्तनों को रिकॉर्ड करने, स्वचालित रूप से विश्लेषण करने और विशेष माप द्वारा एकत्र किए गए डेटा और छवियों को संसाधित करने के लिए किया जा सकता है और वास्तविक समय में सॉफ्टवेयर को नियंत्रित करें। यह उद्योग में पूरी तरह से स्वचालित छवि विश्लेषण परीक्षण भट्टी है。
अपवर्तकता परीक्षण भट्टी का उपयोग 1900℃ से नीचे दुर्दम्य सामग्री की अपवर्तकता का परीक्षण करने के लिए किया जा सकता है। GM1900 उच्च तापमान सिलिकॉन प्लैटिनम का उपयोग हीटिंग तत्व के रूप में किया जाता है, बी-प्रकार थर्मोकपल तापमान माप, उच्च परिशुद्धता तापमान नियंत्रण मॉड्यूल हीटिंग दर को सटीक रूप से नियंत्रित करता है, औद्योगिक छवि अधिग्रहण प्रणाली वास्तविक समय में छवियां एकत्र करती है और उन्हें कंप्यूटर मॉनिटर पर प्रदर्शित करती है, और परीक्षण के बाद परीक्षण रिपोर्ट का प्रिंट आउट लिया जा सकता है, जिसमें चित्र और तापमान की जानकारी होती है।
विशेष विवरण
सेवा तापमान | 1800 ℃ |
शंकु की घूर्णन गति | 3r / मिनट |
गर्म होने की दर | 0~20℃/मिनट |
नमूने की मात्रा | 1 ~ 5 |
गर्म करने के तत्व | MoSi2/GM1900 |
अवलोकन छवि | 6.4-मेगा-पिक्सेल |
फोकसिंग रेंज | 500मिमी-∞ |
फर्नेस आयाम | 150mm × 150mm × 150mm |
मूल्यांकित शक्ति | 8K वीए |
Power | दो-चरण 380V,60A,50Hz |
पिक्सेल का आकार | ४० μ |